Influencia de la microestructura sobre efectos de irradiación en aleaciones metálicas

Se estudia la influencia de la microestructura de aleaciones metálicas sobre los daños generados por irradiación con iones. El objetivo es establecer los mecanismos de daño y la forma de mitigar el mismo mediante el diseño de una microestructura adecuada, con el fin de contribuir conceptualmente al desarrollo aleaciones con alta resistencia a la irradiación para aplicaciones en reactores de fisión o de fusión. Actualmente esta línea se desarrolla en colaboración con el Dr. Esteban Sánchez de la División Física de Superficies del Centro Atómico Bariloche.

a) Image de alta resolución de defectos inducidos por irradiación con iones de Xe^- con una energía de 230 MeV. b) Detalle de la zona señalada en a). [E. Zelaya et al. (2009)]. c) Ampollas en Al generadas por irradiación por implantación de He; fluencia: 8,7 x 10¹⁶ iones/cm². d) Detalle con mayor magnifcación de la superficie irradiada. [S. Soria et al. (2015)]. e) Burbujas facetadas de He en Al. Fluencia: 2,6 x 10^{17}. [D. Rondón et al. (2019)]

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Swift heavy ion irradiation of Cu–Zn–Al and Cu–Al–Ni alloys. E. Zelaya, A. Tolley, A. M. Condo and G. Schumacher. J. Phys.: Condens. Matter 21 (2009) 185009 (8pp).

Cavity nucleation and growth in Cu–Zn–Al irradiated with Cu+ ions at different temperatures. E. Zelaya , D. Schryvers, A. Tolley, P.F.P. Fitchner. Intermetallics 18, 493-498 (2010) (doi:10.1016/j.intermet.2009.09.010).

The influence of microstructure on blistering and bubble formation by He ion irradiation in Al alloys. S. R. Soria, A. Tolley, E.A. Sánchez, Journal of Nuclear Materials 467, 357-367 (2015). https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2015.09.051

Characterization of He Bubbles in Irradiated Aluminium with High Resolution Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy. D. Rondón Brito, Esteban A. Sánchez, Alfredo J. Tolley. Microscopy and Microanalysis, 26, Suppl 1, 25-26 (2020), doi:10.1017/S1431927620000367.

Elaboración de aleaciones

Irradiación/Implantación de iones de gases nobles.

Microscopía de Fuerza Atómica

Microscopía Electrónica de Barrido

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Alfredo
Tolley

Investigador de la CNEA / Investigador Independiente del CONICET